借助第二代VST，工程师能够以20 MHz的带宽同步测量和生成多达32个LTE载波，并使用软件来定义各种载波间距方案。
最新版本的NI-RFmx还可通过算法优化来缩短测量时间。工程师在执行UMTS/HSPA+和LTE/LTE-Advanced Pro等无线技术的调制和频谱测量时，可安装最新版本的软件，将EVM测量时间缩短高达33%。NI-RFmx在测量速度的优化体现了NI始终致力于帮助用户以更低成本获得更快的测量速度。
“通过采用PXI和LabVIEW以及NI-RFmx测量软件，我们看到许多半导体行业的客户大大缩短了RF测量的测试时间，进而降低了测试成本，缩短了上市时间。”NI RF副总裁Charles Schroeder表示，“清晰的文档描述、丰富的示例代码和与第二代VST等PXI硬件的紧密集成，使我们的客户能够快速轻松地将NI-RFmx应用到测试系统中。”
除了算法改进之外，NI-RFmx还增加了对互调失真、三阶截距以及Y因子和冷源噪声系数等测量的支持。 这些测量可轻松与PXIe-5668R射频信号分析仪集成，工程师可轻松配置互调失真和噪声系数测试。现有NI-RFmx用户可以点击此处下载并使用最新版本。
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